测厚工业解决方案

ǀ  TOPTICA Tuesday

08-03-2021聚合物图层高速工业测厚:Fraunhofer ITWM和TOPTICA Photonics联合开发了一种用于工业无损在线材料测试中在线涂层厚度测量的解决方案。该系统为厚度测量创造了新的速度记录,每秒可完成1600次测量,因此适用于生产线上快速移动的样品。
超高频电子设备可在工业生产中实现可靠高效的质量控制。由于激光业的快速发展与太赫兹电子器件制造方法的改进,新一代高强度的太赫兹源和高灵敏度探测器已经成为可能。
通过与TOPTICA合作,Fraunhofer工业数学研究所ITWM开发了一种新的太赫兹系统,其在测量速度方面达到了新的标准。结合ITWM的实时数据处理软件,太赫兹平台“TeraFlash smart”成为工业进程控制的独特仪器。该系统每秒可记录多达1600个脉冲轨迹,因此能够以前所未有的速度在线测量层厚,例如在生产工厂中对薄的、快速移动的聚合物样品进行测量。
联合开发的太赫兹检测系统能够测量单层和多层样品的厚度。由于它的高通用性,测量技术兼容广泛的涂层厚度和几何形状。通过特定的调整,该系统甚至适用于最薄的涂层,厚度约为10微米。
Fraunhofer ITWM“材料特性和测试”部门副主管Joachim Jonuscheit博士阐述了这一概念的潜力:“快速太赫兹技术与实时数据评估的结合是独一无二的,并开辟了许多以前不可能实现的新的内联应用,我们认为这对塑料工业特别有好处。”
更多信息请访问:www.itwm.fraunhofer.de www.toptica.com