HighFinesse线宽分析仪

测量,分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器

  • 频率偏差时间轨迹的测量
  • 频率噪声密度频谱
  • 强度噪声频谱
  • 激光线形光谱

HighFinesse线宽分析仪(LWA)是一款用途广泛,坚固耐用的紧凑型仪器,用于测量,分析和控制激光器的频率和强度噪声。这使它们成为实时精确表征激光的理想型设备。

通过将干涉测量工作原理与高端光学和电子组件相结合,可以实现出色的灵敏度。基于随时间变化的频率偏差的测量,可以计算出频率噪声密度谱,评估低至350 Hz的内部的(洛伦兹)线宽和有效(光学)线宽以及相对强度噪声(RIN)的光学线形。通过进一步分析,可以获取许多额外的量。LWA的无偏测量原理优于光学延迟线技术,因为由于技术固有的信息丢失,后者依赖于非平凡的评估需求。 LWA还允许使用PID控制来减少激光器的线宽。

LWA-1k产品系列是用于测量非常低线宽的仪器。 LWA-100k产品系列可在非常大的波长范围内进行精确的线宽测量。

  • Specification

    LWA-1k Series
    • frequency noise density:   50 Hz – 10 MHz
    • optical & Lorentzian linewidth:   350 Hz – 20 MHz
    • narrowing linewidth PID control
    • based on frequency discriminator (interferometer)
      Wavelength range [nm] Noise floor [Hz/√Hz] Frequency Noise Bandwidth Intrinsic linewidth range Effective linewidth range
    LWA-1k 780 760 - 1064 25 - 500 10 Hz - 10 MHz < 8 kHz < 10 kHz - 20 MHz
    LWA-1k 1550 1530 - 1565 5 - 100 10 Hz - 10 MHz < 350 Hz < 1 kHz - 20 MHz

     

    LWA-100k Series
    • frequency noise density:   25 Hz – 10 MHz
    • optical & Lorentzian linewidth:   2 kHz – 20 MHz
    • narrowing linewidth PID control
    • based on frequency discriminator (interferometer)• based on frequency discriminator (interferometer)
      Wavelength range [nm] Noise floor [Hz/√Hz] Frequency Noise Bandwidth Intrinsic linewidth range Effective linewidth range
    LWA-100k NIR 1064 - 1625 25 - 1000 25 Hz - 10 MHz < 2 kHz < 10 kHz - 20 MHz
    LWA-100k VIS          
  • Applications

    • Laser manufacturing
    • Laser characterization
    • Optical telecommunications
    • Linewidth reduction
    • Quantum technologies

  • Downloads

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